BL5S2 粉末X線回折

ビームライン概要

デバイシェラー型カメラに二次元半導体検出器(PILATUS 100K)4連装を備えており、高速データ収集を可能とする。試料の形態は基本キャピラリーとする。
試料センタリングシステムおよびサンプルチェンジャーを装備し、多数の測定試料の連続自動測定も可能とする。

光エネルギー 7~20 keV (0.18~0.062nm)
ビームサイズ 0.5mm×0.5mm
分解能(E/ΔE) 7000 @12keV
光子数

BL5S2 Flux

2013.4

 

ビームライン整備状況 

てすと

装置写真

 2022.4 PILATUS4連装

 PILATUS測定データの一次元化

二次元強度データの一次元化については、Sulyanovらの方法[1]に従って二次元強度データから一次元回折強度を計算し、この方法を拡張した名古屋工業大学・井田隆教授の提唱する方法を用いて強度補正および標準偏差を計算しています[2]。

なお、二次元強度データの一次元化について、参考文献が必要な場合には、下記の論文を引用してください。
[1] S. M. Sulyanov, et. Al., J. Appl. Crystallogr., 27, 934-942 (1994).
[2] T. Ida, Powder Diffr., 31, 216-222 (2016).

【解説資料】 PILATUS測定データの一次元化について(PDF) 

PILATUS4連装による測定の流れ

 PDF資料はこちら

 

試料作製

キャピラリーへの試料充填方法

サンプルホルダーへの取付方法

各種キャピラリーによるバックグラウンド比較

PDF資料はこちら 

測定事例

酸化セリウム(標準サンプル)のリートベルト法による解析 

 

ガス雰囲気in-situ実験 (2014.7-10月実施)