第10回あいちシンクロトロン光センター事業成果発表会

第10回あいちシンクロトロン光センター事業成果発表会

 

日時:2022年4月26日(火) 10時30分 から 16時40分 まで

場所:現地会場(あいち産業科学技術総合センター 講習会室)および WEBのハイブリッド開催(Zoom)

共催:愛知県、(公財)科学技術交流財団

協賛:名古屋大学 シンクロトロン光研究センター

 

プログラム:講演資料

10:30~10:40  挨拶

(1) 2021年度成果公開無償利用課題成果発表
10:40~10:55
単分子検出を可能とする多層グラフェンバイオセンサーの開発
東洋大学  根岸 良太

 

10:55~11:10
絶縁性有機材料のNEXAFS測定を可能にする金属蒸着条件の検討
JSR株式会社  豊田 由衣

 

11:10~11:25
X線回折による超高精細スクリーン印刷用のステンレスメッシュの研究開発
アサダメッシュ株式会社  青木 真理

 

11:25~11:40
全固体電池のXAFS解析
株式会社日産アーク  伊藤 孝憲

 

11:40~11:55
a-SiO2/SiのGI-PDF(grazing-incidence pair distribution functions)による局所構造解析
株式会社日産アーク  宋 哲昊

 

11:55~13:30  休憩

 

13:30~13:45
冷間鍛造の潤滑被膜形成プロセスにおけるウェットブラストによる素材前処理の効果検証
マコー株式会社  橘 和寿

 

13:45~14:00
X線源を相補利用した電子分光測定による高分子材料の表面化学構造に関する深さ依存性評価
株式会社メニコン  伊藤 恵利

 

14:00~14:15
軟X線XAFSスペクトルからの物性予測
株式会社デンソー  森口 七瀬

 

14:15~14:30
X線イメージングによる口腔内崩壊錠(OD錠)の導水過程及び崩壊挙動観察
株式会社ダイセル  高尾 直樹

 

14:30~14:45
軟X線XAFS並びに光電子分光法によるALPS沈殿系廃棄物のリン酸塩固化体構成元素の電子状態解析
東京工業大学  中瀬 正彦

 

14:45~15:00
蛍光XAFS測定における時間空間分解能の向上手法の開発
株式会社SOKEN  高井 智明

 

15:00~15:20  休憩

 

15:20~15:35
結晶構造解析によるプロスタグラジンD2合成酵素阻害剤のスクリーニング
株式会社丸和栄養食品  伊中 浩治

 

15:35~15:50
粉末冶金法により作製したFeAl基ODS焼結体のシンクロトロン光XRD解析
豊臣熱処理工業株式会社  橋井 光弥

 

15:50~16:05
粉体Materials Genomeプロセスによる全固体電池用固体電解質の探索
東京理科大学  藤本 憲次郎

 

(2) あいち産業科学技術総合センター成果発表
16:05~16:20
粉末粒子径がXAFSスペクトルの定量性に及ぼす影響
あいち産業科学技術総合センター  野本 豊和

 

16:20~16:35
あいちSRにおけるCT技術の開発(知の拠点重点研究プロジェクトⅢ期成果)
あいち産業科学技術総合センター  杉山 信之

 

16:35~16:40  終了挨拶